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發(fā)布日期:2022-07-14 點(diǎn)擊率:67
圖1:機(jī)械電子系統(tǒng)是由嵌入式系統(tǒng)控制的機(jī)械系統(tǒng)和電子系統(tǒng)的結(jié)合。
利用模型設(shè)計(jì)改善研發(fā)
圖2:基于模型的設(shè)計(jì)將系統(tǒng)級(jí)模型置于機(jī)械電子系統(tǒng)開(kāi)發(fā)過(guò)程的核心位置。
開(kāi)發(fā)系統(tǒng)級(jí)模型
圖3:對(duì)系統(tǒng)級(jí)模型建立直觀感覺(jué)的方框圖。
改進(jìn)系統(tǒng)級(jí)模型
開(kāi)發(fā)控制策略
連續(xù)測(cè)試和系統(tǒng)驗(yàn)證
測(cè)試設(shè)備和一致的測(cè)試方法對(duì)系統(tǒng)級(jí)模型的演進(jìn)進(jìn)行測(cè)試。像通過(guò)/不通過(guò)以及容差范圍等測(cè)試準(zhǔn)則與測(cè)試關(guān)聯(lián),而該測(cè)試則通過(guò)電子鏈接與技術(shù)要求文件相關(guān)聯(lián)。利用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試包的連續(xù)測(cè)試能夠即時(shí)發(fā)現(xiàn)任何設(shè)計(jì)變化對(duì)系統(tǒng)輸出產(chǎn)生的影響,并幫助迅速地跟蹤變化及其起因。
用實(shí)時(shí)系統(tǒng)測(cè)試機(jī)電系統(tǒng)
表1:快速建模和環(huán)內(nèi)硬件測(cè)試環(huán)境。
產(chǎn)品質(zhì)量代碼生成
本文小結(jié)
作者:Tony Lennon
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