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    IC卡動態(tài)彎曲雙向扭試驗機用于檢測磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測試。

    本儀器針對性IC卡在國標GB/T16649.1，國標GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998國際標準等試驗標準中的彎曲、扭矩的試驗；完全符合以上標準。

    技術參數(shù)

    扭曲度：±15°±1°雙向d=86mm

    正反向各15°，總扭曲角度30°

    測試周期：1~9999次

    測試速度：彎曲扭曲30r/min及0.5Hz

    長邊位移量為20mm(+0.00mm,-1mm)

    長邊小位移量為2mm±0.50mm

    短邊位移量為10mm(+0.00mm,-1mm)

    長邊小位移量為1mm±0.50mm

    電壓：AC220V±5%

    外形尺寸：L670XW380XH220

    功率：35W

    儀器重量：70kg

    使用方法

    (1)儀器接通電源,將計數(shù)器,數(shù)值調(diào)到三個“0”,放上標準卡。

    (2)按扭曲啟動按扭(此時只有點功能),看搖擺指針是否在±15°之間作往復運動。

    (3)按下彎曲啟動按扭,使彎曲卡位處于距離遠,看指針分別在某一刻度,或者用卡尺測量臺面到卡的高度；

    然后再按下彎曲啟動按扭,使得彎曲卡位處于距離近,看指針分別在另一刻度,或者用卡尺測量臺面到卡頂端高度,兩高度之差分別是10mm和20mm。