介紹
標(biāo)智GM280F分體式涂覆層測厚儀采用了磁性測厚法,它能快速無損傷、精確地進(jìn)行鐵磁性金屬基體上的非確性(如油漆、電違層等)覆層厚度上的測量。被廣、這地用于制造業(yè)、金屬1加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。
特點(diǎn)或功能
LCD直觀顯示測量值、測量狀態(tài)
采用高靈敏度探頭,測量準(zhǔn)確
具有零點(diǎn)、二點(diǎn)和基本三種校驗(yàn)方法,可隨時(shí)快捷的進(jìn)行系統(tǒng)誤差修正
具有單次、注裝和偏差三種測量方式
可記錄、存儲査看及刪除測量數(shù)據(jù)
可對測量中出現(xiàn)的單次可理數(shù)據(jù)進(jìn)行田除,也可刷除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)
可統(tǒng)計(jì)最大値、最小值、平均値、標(biāo)準(zhǔn)偏差和測量次數(shù)
蜂鳴器提示功能
公英制轉(zhuǎn)換功能
低電指示功能
自動關(guān)機(jī)功能
LCD背光燈功能
測厚儀產(chǎn)品規(guī)格" style="line-height: 25.2px; text-indent: 28px; white-space: normal;">
二、操作說明
標(biāo)準(zhǔn)片&基體的認(rèn)識
標(biāo)準(zhǔn)片:
a.已知厚度的試樣均可作為被準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片,簡稱標(biāo)準(zhǔn)片。
b.有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片:
GM280F分體式涂覆層測厚儀采用已知厚度的、均勻的、并與基體率固結(jié)合的覆差層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對于本儀器,覆益層應(yīng)是非磁性的。
基體:
a.對于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度,應(yīng)當(dāng)與待測試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性,可用標(biāo)準(zhǔn)基體與待測試件基體上所測得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
b.如果特測試件的基體金屬厚度沒有超過參數(shù)表中所規(guī)定的l的界厚度,可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn):
(1).在與待測試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn);
(2).用一足夠厚度的,電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯生標(biāo)準(zhǔn)片或試件,但必須使基體金屬與襯塾金屬之間無間踐。(對西面有覆蓋層的試件,不能采用:討塾法。)
c.如果待測覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn),則覆益層的標(biāo)準(zhǔn)片的途層厚度,應(yīng)與試樣的涂層厚度相同。
三、其它事項(xiàng)
影響測量精度的因素及有關(guān)說明
a.基體金屬磁性:
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,,低碳鋼確性的變化可以認(rèn)為是要徴的),為了選免熱處理及冷加工因表的影響,應(yīng)使用與被測件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對使器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆金屬進(jìn)行被準(zhǔn)。
b.基體金屬厚度
每一種使器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度値見產(chǎn)品規(guī)格中的要求。
c.邊場效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的測量變敏感。因此在靠近被測件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。
d.曲率
被測件的曲率:對測量有影響。這種影響總隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
e.表面粗粧度
基體金屬和覆差層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統(tǒng)課差和偶然課差,,每次測量時(shí),在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù),以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在末除覆的粗糙度相類似的基體金屬體件上取幾個位置校對使器的零點(diǎn);或用對基體金屬沒有腐性的溶劑溶解除去覆差層后,再校對使器的零點(diǎn)。
f.磁場
周田各種電氣設(shè)各所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場,會嚴(yán)重地干就確性法測厚工作。
g.附著物質(zhì)
本儀器對那些妨得測頭與覆差層表面緊密接蝕的附著物質(zhì)織感,因此,必須清除附著物質(zhì),以保證使器探頭和被測件表面直接接蝕。
h.探頭壓力
探頭置于被測件上所施加的壓力大小會影響測量的法數(shù),,因此本儀器測頭用彈養(yǎng)保持一個基本恒定的壓力。
i.探頭的放置
探頭的放置方式:對測量有影響。在測量中,應(yīng)當(dāng)使探頭與待測試件表面保持垂直。
j.被測件的變形
探頭會使軟覆蓋層被測件變形,著變形過大,將會測出不太可靠的數(shù)據(jù)。
2.使用儀器日常應(yīng)當(dāng)連守的規(guī)定:
a.基體金屬特性
標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗粧度,應(yīng)當(dāng)與被測件基體金屬的磁性和表面粗鞋度相似。
b.基體金屬厚度
檢査基體金屬厚度是否超過臨昇厚度。
c.邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。
d.曲率
不應(yīng)在被測件彎曲表面上測量。
e.讀數(shù)次數(shù)
通常由f儀器的每次讀數(shù)并不完全相同,因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù)。覆蓋層厚度局部差異,也要求在指定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量,表面粗松時(shí)更應(yīng)如此。
f.表面清);言度測量前,應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì),如生士、油脂及腐性物質(zhì)等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
3.關(guān)于測量結(jié)果的說明:a.根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀點(diǎn),一次法數(shù)是不可靠的。因此任何由本使器顯示的測量值都是多次測量的平均值。這多次測量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測頭和儀器完成的。
b.為使測量更加準(zhǔn)確,可用本儀器在待測點(diǎn)多次測量,并用田除功能對粗大誤差進(jìn)行田除,然后用本儀器的統(tǒng)計(jì)功能處理,獲取五個統(tǒng)計(jì)量:平均値(AVG)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、測量次數(shù)(NO)、標(biāo)準(zhǔn)信差值(dFR)。
c.接照國際標(biāo)準(zhǔn),最終的測量結(jié)果可以表達(dá)為:
CH=A±2D
其中:CH覆l層厚度
A多次測量的平均值(AVG)
D標(biāo)準(zhǔn)信差(dFR)
